La diffraction RX sur couches minces
Nous disposons, sur le pôle D2RX, d’un diffractomètre à anode tournante (9 kW) dédié à l’étude d’échantillons polycristallins massifs ou pulvérulents et couches minces. Il permet de réaliser des mesures de diffraction « classique » mais également des mesures en incidence rasante, de la réflectométrie, des mesures de stress, de figures de pôles, de texture, des cartographies de l’espace réciproque, des rocking curves, etc…, tout ceci en fonction de la température et sous atmosphère contrôlée.
SMARTLAB – couches minces
Ce diffractomètre à anode tournante (9kW) est dédié à l’étude d’échantillons polycristallins massifs ou pulvérulents et couches minces de l’ambiante à 1100°C. Il est équipé de 7 cercles et permet des mesures in-plane et out-of-plane. Le diffractomètre est doté :
• d’un détecteur 1D
• d’un détecteur 2D
• d’une chambre HT du type Anton paar DHS 1100.
Il est possible, sur cet appareil de faire de la microdiffraction.