Le pôle de microscopie électronique de la Plateforme de Caractérisation Avancée organise une demi-journée d’échanges scientifiques le 30 mai à partir de 13h30 au bâtiment Chevreul.

Au programme :

Une première session consacrée à des aspects divers de la diffraction (EBSD, cartographie d’orientation, 4D-STEM).

Une seconde session, ouverte à tous les sujets et faisant appel à des contributions. Les personnels et étudiants ayant travaillé sur le pôle, en MEB ou en MET, sont ainsi invités à présenter leurs résultats. Pour cela, il suffit d’envoyer avant le 15 mai un titre indicatif et quelques mots clés à Corentin Le Guillou (corentin.le-guillou@univ-lille.fr) et Maya Marinova (maya.marinova@univ-lille.fr).

Informations et inscription (obligatoire) sur la page dédiée.