Un nouveau diffractomètre pour la plateforme de caractérisation avancée
Le Pôle Diffusion et Diffraction des Rayons X de la plateforme de caractérisation avancée de l’Institut Chevreul vient d’accueillir un diffractomètre de toute dernière génération équipé d’une source à anode tournante et d’un détecteur de type Hybrid pixel. Cet équipement de très haute sensibilité permet l’analyse de quantités réduites de matériaux (polycristallins massifs ou pulvérulents) et d’effectuer des études cinétiques sous différents environnements. Cet équipement remarquable a été financé dans le cadre du projet CPER ARCHI-CM.
Le projet ARCHI-CM est porté par l’Institut Chevreul et est financé par la Région, l’Europe, l’Etat et le CNRS.
